Diese Prüfmethode untersucht die Effekte des schnellen Temperaturwechsels mithilfe zweier unterschiedlich temperierter Flüssigkeitsbäder. Die Halbleiter werden in die Bäder aufeinanderfolgend übere mehrere Zyklen eingetaucht. Diese Prüfung ist auf alle Bauelemente anwendbar. Sie gilt als zerstörend, wobei bei hoher Toleranz des Bauteils dieses seine Fuktion nicht verliert.
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