Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte nach DIN EN 60749-5

Methode DIN EN 60749-5 Bereich

Die Eignung von Halbleiterbauelementen für verschiedene Anwendungen hängt von den klimatischen und mechanischen Umgebungseinflüssen ab. In diesem Teil der Normenreihe wird die Zuverlässigkeit von nicht hermetisch verkappten Halbleiterbauelementen durch ein Lebensdauer-Prüfverfahren unter konstanter Wärme, Feuchte und elektrischer Spannungsbelastung beurteilt.

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