Die Eignung von Halbleiterbauelementen für verschiedene Anwendungen hängt von den klimatischen und mechanischen Umgebungseinflüssen ab. In diesem Teil der Normenreihe wird die Zuverlässigkeit von nicht hermetisch verkappten Halbleiterbauelementen durch ein Lebensdauer-Prüfverfahren unter konstanter Wärme, Feuchte und elektrischer Spannungsbelastung beurteilt.
chipcheck – ein Labor der Gesellschaft für Werkstoffprüfung mbH
Qualität sichern | Entwicklung begleiten | Schäden analysieren | Wissen weitergeben
GWP Gesellschaft für Werkstoffprüfung mbH
Georg-Wimmer-Ring 25
D-85604 Zorneding/München
Tel. +49 8106 994110
Fax +49 8106 994111
www.gwp.eu
Handelsregister München
HRB 53245
USt.-IdNr. 131 179 893
Geschäftsführer:
Dr. Stefan Loib
Simon Löhe