Materialanalytik für Halbleiter und Chips
GWP ChipCheck, das Analyselabor für elektronische Baugruppen, Halbleiter- und Mikroelektronik verfügt über eine Reihe analytischer Verfahren zur chemischen und strukturellen Charakterisierung von Halbleitern.
Diese werden ergänzt durch Schliffuntersuchungen und bildgebende Verfahren.
Hochauflösende µ CT (Computer-Tomographie)
Rasterelektronenmikroskopie
Energiedispersive Röntgenspektroskopie
Materialographie und Mikroskopie
Haben Sie Fragen? Kontaktieren Sie unsren Experten, um Ihre individuellen Anforderungen zu besprechen.
Ihr Experte
Dr. Fabian Schmidt
+49 8106 9941 33
fabian.schmidt@gwp.eu
