Plagiatsprüfung an Chips und Halbleitern

Die Plagiatsprüfung von elektronischen Bauteilen wie Chips und Halbleiter ist leider oft notwendig. Insbesondere bei Mikrocontrollern oder speziellen Chips für sicherheitskritische Anwendungen wie beispielsweise in der Automobilindustrie ist es von großer Bedeutung, dass keine Plagiate eingesetzt werden. Die Plagiatsprüfung erfolgt in der Regel durch eine Kombination von Maßnahmen. Eine Möglichkeit ist die Überprüfung der äußeren Kennzeichnung des Chips, wie beispielsweise Seriennummer oder Logo des Herstellers. Auch die Überprüfung von Aufdrucken auf dem Chip oder der Verpackung kann dabei helfen, Fälschungen zu erkennen.

Eine weitere Möglichkeit der Plagiatsprüfung ist die Analyse der elektrischen Eigenschaften des Chips. Jeder Chip hat seine eigenen spezifischen elektrischen Eigenschaften, die durch eine Vielzahl von Messungen erfasst werden können. Durch den Vergleich dieser Messdaten mit den Spezifikationen des Originalherstellers kann eine mögliche Fälschung identifiziert werden.

Darüber hinaus gibt es auch wietere bildgebende Methoden, die bei der Plagiatsprüfung zum Einsatz kommen können. Wir analysieren beispielsweise das „innere Design“ des Chips mittels Computertomographie und vergleichen es mit den Design-Spezifikationen des Originalherstellers.

Die Plagiatsprüfung von Chips ist ein wichtiger Schutzmechanismus, um die Qualität und Sicherheit von elektronischen Geräten zu gewährleisten. Nur so kann sichergestellt werden, dass keine gefälschten Bauteile in elektronischen Geräten eingesetzt werden, die möglicherweise fehlerhaft sind oder sogar ein Sicherheitsrisiko darstellen können.

Ihr Experte

Dr. Fabian Schmidt