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Dr Fabian Schmidt ist Mitarbeiter im neu gegründeten GWP Chipcheck Labor und steht uns für ein Interview zur Verfügung. Er ist Chemiker und für die Verfahrensentwicklung im Bereich Qualitäts-
Materialanalytik für Halbleiter und Chips GWP ChipCheck, das Analyselabor für elektronische Baugruppen, Halbleiter- und Mikroelektronik verfügt über eine Reihe analytischer Verfahren zur chemischen und strukturellen
Fehlersuche bei Kabelschäden mittels TDR (Zeitbereichsreflektrometrie)
AC- und DC-Leckstrommessungen sind wichtige Verfahren, um die Integrität der Isolation in elektrischen Systemen zu bewerten. Diese Messungen dienen dazu, unerwünschte Leckströme zu identifizieren, die auf Isolationsfehler oder Undichtigkeiten hinweisen können.
Isolationsprüfungen bis 10 kV DC und 25 TOhm. Untersuchung des Isolationzustands (PI, DAR,
Rampe, Schrittspannungstest).
Analyse der spektralen Strahlungsverteilung bei LEDs und Leuchtmitteln, Qualifizierung bezüglich Farbwiedergabeindex, Flicker, Farbort etc.
Diese Prüfung ist geeignet, um die Auswirkungen von wiederholten Temperaturwechseln auf die Festigkeit der Lötstelle zwischen Bauteilanschlüssen und dem Substrat zu bewerten.
Untersuchungen und Analyse von Defekten an gelöteten Leiterplattenbaugruppen: CT, Mikroskopie, etc…
chipcheck – ein Labor der Gesellschaft für Werkstoffprüfung mbH
Qualität sichern | Entwicklung begleiten | Schäden analysieren | Wissen weitergeben
GWP Gesellschaft für Werkstoffprüfung mbH
Georg-Wimmer-Ring 25
D-85604 Zorneding/München
Tel. +49 8106 994110
Fax +49 8106 994111
www.gwp.eu
Handelsregister München
HRB 53245
USt.-IdNr. 131 179 893
Geschäftsführer:
Dr. Julius Nickl
