Defekte Kabel: Computertomographie zeigt den Schaden

Computertomographie defektes Kabel

Die fortschreitende Technologie im Bereich der Bildgebung hat zu einer Vielzahl innovativer Anwendungen geführt, darunter die Computertomographie (CT). Diese Technik wird traditionell in der medizinischen Diagnostik eingesetzt, ist aber mittlerweile in Bereichen wie der Materialprüfung und Fehleranalyse an elektronischen Komponenten wie Halbleiter, Stecker und Kabeln zu einem der wichtigsten „Werkzeuge“ in unserem Labor geworden.  In […]

Interview mit Dr. Fabian Schmidt zur Gründung von GWP-ChipCheck

Dr Fabian Schmidt ist Mitarbeiter im neu gegründeten GWP Chipcheck Labor und steht uns für ein Interview zur Verfügung. Er ist Chemiker und für die Verfahrensentwicklung im Bereich Qualitäts- und Funktionstest als auch für das Validierung von Normprüfungen zuständig. Herr Schmidt, was verbirgt sich hinter dem Namen „ChipCheck“? Dr. Fabian Schmidt: Hinter unserem neuen Labor „ChipCheck“ verbirgt sich ein Prüflabor […]

GWP Chipcheck ist offizieller Partner der BAVARIAN CHIPS ALLIANCE

BAVARIAN CHIPS ALLIANCE: Das Halbleiter-Netzwerk Bayern Bayern ist einer der europaweit führenden Standorte für die Halbleiter- und Mikroelektronikindustrie. Um die Branche und den Wirtschaftsstandort weiter zu stärken und Lieferketten widerstandsfähiger zu machen, hat Staatsminister Hubert Aiwanger im Herbst 2021 die Bayerische Halbleiter-Initiative ins Leben gerufen. Eine der tragenden Säulen dieser Initiative des Bayerischen Staatsministeriums für […]

Rasterelektronenmikroskopie an Halbleitern und Chips

Rasterelektronenmikroskopie Analyse Platine REM Aufnahme Elektrolabor

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine leistungsfähige Methode zur Untersuchung von Halbleitern, Chips und anderen Geräten auf mikroskopischer Ebene. REM arbeitet mit einem Elektronenstrahl, der auf die Probe gerichtet wird. Wenn der Elektronenstrahl auf die Probe trifft, wird eine Rückstreustrahlung erzeugt, die von einem Detektor aufgefangen wird. Aus der Analyse dieser Rückstreustrahlung lassen sich Informationen über […]

Röntgeninspektion und Computertomographie an gekapselten Bauteilen

CT Aufnahme Chip Halbleiter Röntenispektion

Röntgeninspektion: CT arbeitet mit Röntgenstrahlen, die durch das Bauteil geschickt werden. Auf der Grundlage der Absorption und Streuung der Röntgenstrahlen wird ein dreidimensionales Bild der inneren Struktur des Bauteils erstellt. Anhand dieses Bildes lassen sich zum Beispiel Verunreinigungen, Materialfehler oder Schäden im Inneren des Bauteils erkennen.Die Computertomographie bietet eine hohe Auflösung und ist in der […]

Vorsicht Plagiate: Kriminelle fälschen Chips im großen Stil

Die gefälschten Chips stammen nicht selten von Schrottplätzen. Fälscher entfernen die Bauteile aus den Platinen alter Computer und anderen Elektronikgeräten. Die Fälschung werden mit unterschiedlich hohem Aufwand betrieben. Im einfachsten Fall wird über das bestehende Label einfach eine neue sgedruckt oder graviert. Die alte Markierung werden vorher angetragen abgetragen oder die Oberfläche wird einfach neu […]

Lötverbindungen: Eine Schwachstelle, die immer wieder auffällt.

2D-Durchstrahlung Bondraht gebrochen Schadensanalyse

Lötverbindungen sind in der Elektronikfertigung weit verbreitet und werden verwendet, um elektronische Bauteile miteinander zu verbinden. Ein wichtiger Aspekt beim Löten ist die Qualität der Verbindung, insbesondere die Zuverlässigkeit und Festigkeit der Verbindung. Eine häufige Herausforderung bei Lötverbindungen sind Brüche, die in den Lötstellen auftreten können. Ein Bruch in einer Lötverbindung tritt meist dann auf, […]

Erhöhte Widerstände bei Steckern können ein ernstes Problem darstellen

Erhöhte Widerstände bei Steckern können ein ernstes Problem darstellen, das sich auf die Leistung von elektronischen Geräten auswirkt. Wenn die Widerstände an den Steckern hoch sind, kann dies zu einer geringeren Stromversorgung und einer Verringerung der Leistung oder zum Ausfall führen. Erhöhte Widerstände können aus verschiedenen Gründen auftreten. Einer der häufigsten Gründ, die wir beobachne […]