Materialanalytik für Halbleiter und Chips
Materialanalytik für Halbleiter und Chips GWP ChipCheck, das Analyselabor für elektronische Baugruppen, Halbleiter- und Mikroelektronik verfügt über eine Reihe analytischer Verfahren zur chemischen und strukturellen Charakterisierung von Halbleitern. Diese werden ergänzt durch Schliffuntersuchungen und bildgebende Verfahren. Hochauflösende µ CT (Computer-Tomographie) Rasterelektronenmikroskopie Energiedispersive Röntgenspektroskopie Materialographie und Mikroskopie Haben Sie Fragen? Kontaktieren Sie unsren Experten, um Ihre […]
